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電腦散熱器芯片測試設備冷熱沖擊試驗箱適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件在溫度快速轉變的情況下檢驗產品的各項性能指標。升級版立式恒溫恒濕試驗箱-60~+150℃廠家
產品型號：TSB-150F-2P廠商性質：生產廠家更新時間：2025-07-11訪 問 量：539
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| 品牌 | 廣皓天 | 高溫室 | +60℃→+150℃ |
|---|---|---|---|
| 低溫室? | ?-60℃→-10℃ | 升溫時間? | 升溫+60℃→150℃≤25min |
| 降溫時間 | ?+20℃→-60℃≤60min | 溫度沖擊范圍? | ?（60℃→-150℃）→（-40℃--10℃） |
| 溫度波動度 | ?±0.5℃ | 溫度偏差? | ±2.0℃ |
電腦散熱器芯片測試設備冷熱沖擊試驗箱
結構特證
1.機箱材質
a.外箱材質:優質冷扎鋼板靜電噴塑。
b.內箱材質:鏡面不銹鋼板。
c.保溫材質:高密度PU硬質發泡。
d.外箱底座:國標角鐵 國標槽鋼 特殊防銹處理之電解板噴塑。
2.試驗機箱門:單片門×1套,左開,把手在右手邊。
a）材 質:不銹鋼（SUS#304）。
b）把 手:不銹鋼把手。
c）后 鈕:SUS#304。
d）窗 口:340×450×20（mm）三層真空玻璃層。
e）測 試 孔:機體左側50mm孔1只,附不銹鋼孔蓋1只,硅膠塞頭1只。
3.送風循環系統:a.馬達:AC220V 60W1臺或多臺加長軸心。
b.風扇多翼式扇葉（SIROCCOFAN）。
電腦散熱器芯片測試設備冷熱沖擊試驗箱
執行與滿足標準
1.GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術條件。
2.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件。
3.GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則。
4.GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 第3部分：高溫試驗。
5.GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 第4部分：低溫試驗。
6.GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫。
7.GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。
8.GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 第9部分：濕熱試驗華臺儀器主營產品。
9.GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。
10.GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環）。
性能特點：
1、氣動式閥門方便開啟，***氣密及斷熱保護；
2、試驗槽靜止，可由測試孔外加負載配線；
3、蓄能方式可避免使用者職業傷害；（注：液態氣體所產生的廢氣，吸入肺部致使肺部氧氣量減少，而產生工作倦怠，注意力不集中等）
4、溫度控制精度高，全部采用PID自動演算控制；
5、可選擇始動位置，高溫或低溫開始循環；
6、具有預約起動功能；
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